一种非接触测试半绝缘半导体电阻率的装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201720493350.5

申请日：

2017-05-05

公开(公告)号：

CN206773072U

公开(公告)日：

2017-12-19

发明(设计)人：

王昕田蕾李俊生

申请人：

申请人地址：

510650 广东省广州市天河区白沙水路123号东门三楼

IPC主分类号：

G01R2702

IPC分类号：

代理机构：

广州市华学知识产权代理有限公司 44245

代理人：

刘巧霞;裘晖

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-12-19	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体电阻率测试仪 [P].

李杰 ;

于友 ;

刘世伟 ;

石坚 .

中国专利 :CN208207073U ,2018-12-07

[2]

一种便携式半导体非接触电阻率测试仪 [P].

李杰 ;

刘世伟 ;

于友 ;

石坚 .

中国专利 :CN206450758U ,2017-08-29

[3]

基于电容充放电原理的半绝缘半导体电阻率测绘仪 [P].

王昕 ;

李俊生 ;

冯小明 ;

田蕾 .

中国专利 :CN205139247U ,2016-04-06

[4]

半绝缘半导体电阻率气控悬浮式探针电容探头 [P].

王昕 ;

苟永江 ;

冯小明 .

中国专利 :CN206649081U ,2017-11-17

[5]

一种半导体电阻率测试机构 [P].

李杰 ;

于友 ;

刘世伟 ;

石坚 .

中国专利 :CN208207067U ,2018-12-07

[6]

一种固定式半导体电阻率测试装置 [P].

李杰 ;

于友 ;

刘世伟 ;

石坚 .

中国专利 :CN208207066U ,2018-12-07

[7]

一种便携式半导体非接触电阻率测试仪探头 [P].

李杰 ;

于友 ;

刘世伟 ;

石坚 .

中国专利 :CN206557293U ,2017-10-13

[8]

便携式半导体非接触电阻率测试仪 [P].

李杰 ;

刘世伟 ;

于友 ;

石坚 .

中国专利 :CN304200347S ,2017-07-11

[9]

一种半导体P、N类型非接触测试装置 [P].

赵丹 ;

颜友钧 ;

郑钰 .

中国专利 :CN203688741U ,2014-07-02

[10]

一种半导电化合物半导体电阻率的测量装置 [P].

王昕 ;

李俊生 ;

王昱 ;

张杰 .

中国专利 :CN222994380U ,2025-06-17

← 1 2 3 4 5 →