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半绝缘半导体电阻率气控悬浮式探针电容探头
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201720346960.2
申请日
:
2017-04-01
公开(公告)号
:
CN206649081U
公开(公告)日
:
2017-11-17
发明(设计)人
:
王昕
苟永江
冯小明
申请人
:
申请人地址
:
510650 广东省广州市天河区白沙水路123号东门三楼
IPC主分类号
:
G01R2702
IPC分类号
:
代理机构
:
广州市华学知识产权代理有限公司 44245
代理人
:
刘巧霞;裘晖
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2017-11-17
授权
授权
共 50 条
[1]
半绝缘半导体电阻率气控悬浮式探针电容探头及测试方法
[P].
王昕
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王昕
;
苟永江
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苟永江
;
冯小明
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冯小明
.
中国专利
:CN106771626A
,2017-05-31
[2]
基于电容充放电原理的半绝缘半导体电阻率测绘仪
[P].
王昕
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王昕
;
李俊生
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李俊生
;
冯小明
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冯小明
;
田蕾
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田蕾
.
中国专利
:CN205139247U
,2016-04-06
[3]
一种非接触测试半绝缘半导体电阻率的装置
[P].
王昕
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王昕
;
田蕾
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田蕾
;
李俊生
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李俊生
.
中国专利
:CN206773072U
,2017-12-19
[4]
便携式半导体非接触电阻率测试仪探头
[P].
李杰
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李杰
;
于友
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于友
;
刘世伟
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刘世伟
;
石坚
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石坚
.
中国专利
:CN304279306S
,2017-09-12
[5]
一种半导电化合物半导体电阻率的测量装置
[P].
王昕
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机构:
广州昆德半导体测试技术有限公司
广州昆德半导体测试技术有限公司
王昕
;
李俊生
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机构:
广州昆德半导体测试技术有限公司
广州昆德半导体测试技术有限公司
李俊生
;
王昱
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机构:
广州昆德半导体测试技术有限公司
广州昆德半导体测试技术有限公司
王昱
;
张杰
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机构:
广州昆德半导体测试技术有限公司
广州昆德半导体测试技术有限公司
张杰
.
中国专利
:CN222994380U
,2025-06-17
[6]
硅材料电阻率测量四探针探头
[P].
李杰
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李杰
;
于友
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于友
;
刘世伟
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刘世伟
;
石坚
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石坚
.
中国专利
:CN304054330S
,2017-02-22
[7]
双工位式半导体加工的电阻率检测夹具平台
[P].
林河北
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深圳市金誉半导体股份有限公司
深圳市金誉半导体股份有限公司
林河北
;
阳小冬
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机构:
深圳市金誉半导体股份有限公司
深圳市金誉半导体股份有限公司
阳小冬
;
杨东霓
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机构:
深圳市金誉半导体股份有限公司
深圳市金誉半导体股份有限公司
杨东霓
;
解维虎
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深圳市金誉半导体股份有限公司
深圳市金誉半导体股份有限公司
解维虎
;
覃尚育
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机构:
深圳市金誉半导体股份有限公司
深圳市金誉半导体股份有限公司
覃尚育
.
中国专利
:CN220650545U
,2024-03-22
[8]
低电阻率栅极导体的半绝缘扩散势垒
[P].
L·A·克莱文杰
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L·A·克莱文杰
;
J·A·曼德曼
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J·A·曼德曼
;
R·杰米
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R·杰米
;
O·格鲁斯辰科夫
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O·格鲁斯辰科夫
;
I·麦斯塔
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I·麦斯塔
;
黄洸汉
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黄洸汉
;
J·E·法特梅尔
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J·E·法特梅尔
.
中国专利
:CN1204629C
,2002-03-13
[9]
一种便携式半导体非接触电阻率测试仪探头
[P].
李杰
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李杰
;
于友
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于友
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刘世伟
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刘世伟
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石坚
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石坚
.
中国专利
:CN206557293U
,2017-10-13
[10]
一种半导体电阻率测试机构
[P].
李杰
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李杰
;
于友
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于友
;
刘世伟
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刘世伟
;
石坚
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石坚
.
中国专利
:CN208207067U
,2018-12-07
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