酸化物半導体、その製造方法およびそれを含む半導体デバイス[ja]

被引:0
申请号
JP20240529920
申请日
2022-11-25
公开(公告)号
JP7755273B2
公开(公告)日
2025-10-16
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01L21/368
IPC分类号
H01L21/363 H10D30/01 H10D30/67 H10D86/60
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[2]
半導体デバイスおよびその製造方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2018109970A1 ,2019-10-24
[3]
酸化物半導体膜および半導体デバイス[ja] [P]. 
日本专利 :JP6551414B2 ,2019-07-31
[4]
酸化物半導体膜および半導体デバイス[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2016121152A1 ,2017-09-28
[5]
半導体デバイスおよびその作製方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2007138693A1 ,2009-10-01
[7]
酸化物半導体装置およびその製造方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2012056933A1 ,2014-03-20
[8]
半導体デバイスの製造方法及び半導体デバイス[ja] [P]. 
DAVID LYSACEK ;
JAN HYBL ;
DUSAN POSTULKA ;
JURAJ JARINA ;
VIT JANIREK ;
ALEXANDRA SENKOVA .
日本专利 :JP2024031904A ,2024-03-07
[9]
酸化物半導体装置およびその製造方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2011065329A1 ,2013-04-11
[10]
酸化物半導体およびその製法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6252904B2 ,2017-12-27