TF卡测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411021378.X
申请日
2024-07-29
公开(公告)号
CN119007796B
公开(公告)日
2025-11-18
发明(设计)人
张云海
申请人
深圳市金中环半导体有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市龙华区大浪街道水围社区华旺路279号1层
IPC主分类号
G11C29/56
IPC分类号
G06T7/73 G06V10/75
代理机构
深圳市共赋知识产权代理事务所(普通合伙) 44897
代理人
张国庆
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
TF卡测试装置 [P]. 
张云海 .
中国专利 :CN119007796A ,2024-11-22
[2]
一种TF卡测试装置 [P]. 
陈德政 ;
李耿 .
中国专利 :CN205943469U ,2017-02-08
[3]
一种TF卡测试装置 [P]. 
李锦光 .
中国专利 :CN209591534U ,2019-11-05
[4]
一种TF卡测试装置 [P]. 
付业民 ;
郭寂波 .
中国专利 :CN208889324U ,2019-05-21
[5]
一种TF卡测试装置 [P]. 
方东 .
中国专利 :CN118800311A ,2024-10-18
[6]
TF卡存储器组合测试装置 [P]. 
吴晓凌 ;
林炳地 ;
郑建培 .
中国专利 :CN222580774U ,2025-03-07
[7]
一种TF卡稳定性测试装置 [P]. 
邹胜平 ;
陈政雄 ;
吴勇 ;
涂浪 ;
劳银昌 .
中国专利 :CN221841640U ,2024-10-15
[8]
一种运行平稳的TF卡测试装置 [P]. 
方东 .
中国专利 :CN215577706U ,2022-01-18
[9]
一种TF卡存储器组合测试装置 [P]. 
李锦光 .
中国专利 :CN209641355U ,2019-11-15
[10]
探针卡测试装置及测试装置 [P]. 
李文聪 ;
谢开杰 .
中国专利 :CN110927416B ,2020-03-27