芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411108284.6

申请日：

2024-08-12

公开(公告)号：

CN119125836B

公开(公告)日：

2025-10-24

发明(设计)人：

张天泽杨泽坤楚志华李安平李晓白

申请人：

深圳米飞泰克科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

刘雪稳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-31	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240812
2024-12-13	公开	公开
2025-10-24	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质 [P].

张天泽 ;

杨泽坤 ;

楚志华 ;

李安平 ;

李晓白 .

中国专利 :CN119125836A ,2024-12-13

[2]

芯片测试方法、系统、终端设备及存储介质 [P].

谢海 ;

温海珊 ;

彭小飞 ;

文少东 ;

吴亮 ;

张首勇 ;

郑敏 ;

田烜宁 .

中国专利 :CN119001391A ,2024-11-22

[3]

晶圆测试方法、装置、终端设备及存储介质 [P].

王英广 ;

王健 ;

孔晓琳 ;

刘伟 ;

李安平 .

中国专利 :CN113611347B ,2021-11-05

[4]

测试方法、系统、终端设备及存储介质 [P].

肖鸿鑫 ;

陈杰夫 ;

杨泽坤 ;

李安平 .

中国专利 :CN121027791A ,2025-11-28

[5]

一种DDR芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质 [P].

魏佳辉 ;

刘敏 ;

戴洋洋 ;

陈宗廷 ;

李斌 .

中国专利 :CN113466664A ,2021-10-01

[6]

模拟装置、测试系统、测试方法、终端设备及存储介质 [P].

岳祥 ;

吴海全 ;

曹磊 ;

何桂晓 ;

迟欣 .

中国专利 :CN119316789A ,2025-01-14

[7]

芯片测试系统、芯片测试方法、芯片及存储介质 [P].

黄松 ;

范兵 ;

黄观冰 ;

杜林恒 ;

王传寿 ;

刘超 .

中国专利 :CN120560911A ,2025-08-29

[8]

测试方法、装置、终端设备及可读存储介质 [P].

殷坤 .

中国专利 :CN109857632B ,2019-06-07

[9]

测试方法、终端设备、芯片及存储介质 [P].

丁高珂 .

中国专利 :CN116955208B ,2024-03-15

[10]

终端设备进入测试模式的方法、终端设备及可读存储介质 [P].

肖龙 ;

邵国光 ;

王梓 ;

江滔 ;

陈悦清 .

中国专利 :CN114895994A ,2022-08-12

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