模拟装置、测试系统、测试方法、终端设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411548534.8

申请日：

2024-10-31

公开(公告)号：

CN119316789A

公开(公告)日：

2025-01-14

发明(设计)人：

岳祥吴海全曹磊何桂晓迟欣

申请人：

肇庆德庆冠旭电子有限公司

申请人地址：

526000 广东省肇庆市德庆县新圩镇新圩居委会致庆大道中108号

IPC主分类号：

H04R29/00

IPC分类号：

G02B7/00 A61B5/1455 A61B5/00

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

边珺

法律状态：

公开

国省代码：

广东省肇庆市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-14	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法、系统、终端设备及存储介质 [P].

肖鸿鑫 ;

陈杰夫 ;

杨泽坤 ;

李安平 .

中国专利 :CN121027791A ,2025-11-28

[2]

模拟装置和测试系统 [P].

岳祥 ;

吴海全 ;

曹磊 ;

何桂晓 ;

迟欣 .

中国专利 :CN223553466U ,2025-11-14

[3]

芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质 [P].

张天泽 ;

杨泽坤 ;

楚志华 ;

李安平 ;

李晓白 .

中国专利 :CN119125836A ,2024-12-13

[4]

芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质 [P].

张天泽 ;

杨泽坤 ;

楚志华 ;

李安平 ;

李晓白 .

中国专利 :CN119125836B ,2025-10-24

[5]

测试方法、装置、终端设备及存储介质 [P].

王倩文 .

中国专利 :CN117560309A ,2024-02-13

[6]

设备测试方法、装置、终端设备及存储介质 [P].

蔡毅泉 ;

李生华 ;

蔡阳 ;

沈航 ;

庞观士 ;

林诗美 .

中国专利 :CN119201558A ,2024-12-27

[7]

芯片测试方法、系统、终端设备及存储介质 [P].

谢海 ;

温海珊 ;

彭小飞 ;

文少东 ;

吴亮 ;

张首勇 ;

郑敏 ;

田烜宁 .

中国专利 :CN119001391A ,2024-11-22

[8]

测试方法、装置、存储介质、终端设备及系统 [P].

史同井 .

中国专利 :CN107832214A ,2018-03-23

[9]

软件测试方法、终端设备及存储介质 [P].

吕沙沙 .

中国专利 :CN120123219A ,2025-06-10

[10]

存储装置的VDT功能测试系统、方法、终端设备及存储介质 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

姚瑶 .

中国专利 :CN119864072A ,2025-04-22

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