存储装置的VDT功能测试系统、方法、终端设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411941217.2

申请日：

2024-12-26

公开(公告)号：

CN119864072A

公开(公告)日：

2025-04-22

发明(设计)人：

孙成思何瀚王灿姚瑶

申请人：

深圳佰维存储科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区4、8栋1层-3层及4栋4层

IPC主分类号：

G11C29/50

IPC分类号：

G11C29/56

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

张萌萌

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-22	公开	公开
2025-05-09	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/50申请日:20241226

共 50 条

[1]

测试方法、系统、终端设备及存储介质 [P].

肖鸿鑫 ;

陈杰夫 ;

杨泽坤 ;

李安平 .

中国专利 :CN121027791A ,2025-11-28

[2]

模拟装置、测试系统、测试方法、终端设备及存储介质 [P].

岳祥 ;

吴海全 ;

曹磊 ;

何桂晓 ;

迟欣 .

中国专利 :CN119316789A ,2025-01-14

[3]

芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质 [P].

张天泽 ;

杨泽坤 ;

楚志华 ;

李安平 ;

李晓白 .

中国专利 :CN119125836A ,2024-12-13

[4]

芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质 [P].

张天泽 ;

杨泽坤 ;

楚志华 ;

李安平 ;

李晓白 .

中国专利 :CN119125836B ,2025-10-24

[5]

测试方法、装置、终端设备及存储介质 [P].

王倩文 .

中国专利 :CN117560309A ,2024-02-13

[6]

设备测试方法、装置、终端设备及存储介质 [P].

蔡毅泉 ;

李生华 ;

蔡阳 ;

沈航 ;

庞观士 ;

林诗美 .

中国专利 :CN119201558A ,2024-12-27

[7]

芯片测试方法、系统、终端设备及存储介质 [P].

谢海 ;

温海珊 ;

彭小飞 ;

文少东 ;

吴亮 ;

张首勇 ;

郑敏 ;

田烜宁 .

中国专利 :CN119001391A ,2024-11-22

[8]

终端设备的测试方法、装置、终端设备和存储介质 [P].

杨廷瑞 .

中国专利 :CN108650507B ,2018-10-12

[9]

测试方法、装置、存储介质、终端设备及系统 [P].

史同井 .

中国专利 :CN107832214A ,2018-03-23

[10]

文件存储方法、文件存储装置及终端设备 [P].

吴恒刚 .

中国专利 :CN110688347A ,2020-01-14

← 1 2 3 4 5 →