三维形貌测量方法、装置、设备、存储介质及程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511105374.4

申请日：

2025-08-07

公开(公告)号：

CN120890396A

公开(公告)日：

2025-11-04

发明(设计)人：

胡嘉铃

申请人：

中国工商银行股份有限公司

申请人地址：

100140 北京市西城区复兴门内大街55号

IPC主分类号：

G01B11/25

IPC分类号：

G01B11/24

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

张娜;臧建明

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-04	公开	公开
2025-11-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/25申请日:20250807

共 50 条

[1]

表面三维形貌的测量方法、装置、设备、介质和程序产品 [P].

史其仕 ;

倪赛健 .

中国专利 :CN118243015A ,2024-06-25

[2]

表面三维形貌的测量方法、装置、设备、介质和程序产品 [P].

史其仕 ;

倪赛健 .

中国专利 :CN118243015B ,2024-08-20

[3]

用于表征破碎水波的波面三维形貌测量方法、装置、设备、介质及产品 [P].

潘翀 ;

王将升 ;

刘伟 .

中国专利 :CN120043462A ,2025-05-27

[4]

物体表面三维形貌特征测量方法、装置、设备及存储介质 [P].

余卿 ;

张雅丽 ;

程方 ;

王寅 ;

张一 ;

尚文键 ;

邹景武 ;

周东方 ;

张昆 .

中国专利 :CN111288928B ,2020-06-16

[5]

图像三维测量方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

戴维伟李 ;

斯图尔特平李 .

中国专利 :CN109949899B ,2019-06-28

[6]

线条三维形貌测量方法及线宽测量方法 [P].

高思田 ;

李伟 ;

王鹤群 ;

施玉书 ;

李琪 ;

李适 .

中国专利 :CN105157557A ,2015-12-16

[7]

基于深度学习的三维形貌测量方法、系统和存储介质 [P].

蔡长青 .

中国专利 :CN112802084A ,2021-05-14

[8]

三维形貌的测量方法及测量装置 [P].

黄鑫 .

中国专利 :CN112212815B ,2025-04-04

[9]

三维形貌测量方法、系统和计算机可读存储介质 [P].

刘畅 .

中国专利 :CN120576701A ,2025-09-02

[10]

三维形貌的测量方法及测量装置 [P].

黄鑫 .

中国专利 :CN112212815A ,2021-01-12

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