学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
图像缺陷检测方法、检测装置、检测设备及存储介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202210275557.0
申请日
:
2022-03-18
公开(公告)号
:
CN114723677B
公开(公告)日
:
2025-11-18
发明(设计)人
:
谭丽珠
陆华章
王晓琳
吴春兰
熊伟
周叶笛
申请人
:
珠海格力电器股份有限公司
申请人地址
:
519070 广东省珠海市前山金鸡西路
IPC主分类号
:
G06T7/00
IPC分类号
:
G06V10/25
G06V10/44
G06V10/422
G06V10/74
G06V10/82
G06N3/0464
代理机构
:
北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662
代理人
:
石鸣宇
法律状态
:
授权
国省代码
:
广东省 珠海市
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-11-18
授权
授权
共 50 条
[1]
图像缺陷检测方法、检测装置、检测设备及存储介质
[P].
谭丽珠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谭丽珠
;
陆华章
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陆华章
;
王晓琳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王晓琳
;
吴春兰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴春兰
;
熊伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
熊伟
;
周叶笛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周叶笛
.
中国专利
:CN114723677A
,2022-07-08
[2]
缺陷检测方法、缺陷检测设备及存储介质
[P].
严鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中兴通讯股份有限公司
中兴通讯股份有限公司
严鹏
.
中国专利
:CN117392042A
,2024-01-12
[3]
缺陷检测方法及装置、检测设备及可读存储介质
[P].
陈鲁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈鲁
;
夏爱华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
夏爱华
;
佟异
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
佟异
;
张嵩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张嵩
.
中国专利
:CN112070766A
,2020-12-11
[4]
缺陷检测方法、缺陷检测装置及存储介质
[P].
郑贤超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
睿励科学仪器(上海)有限公司
睿励科学仪器(上海)有限公司
郑贤超
;
葛亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
睿励科学仪器(上海)有限公司
睿励科学仪器(上海)有限公司
葛亮
.
中国专利
:CN117830255A
,2024-04-05
[5]
缺陷检测方法、装置、设备、系统及存储介质
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈鲁
;
肖瑶
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
肖瑶
;
张鹏斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张鹏斌
;
张嵩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张嵩
.
中国专利
:CN117670781A
,2024-03-08
[6]
缺陷检测方法、设备及存储介质
[P].
韦敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
季华实验室
季华实验室
韦敏
;
杨嘉成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
季华实验室
季华实验室
杨嘉成
.
中国专利
:CN119477927A
,2025-02-18
[7]
图像缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质
[P].
刘小磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘小磊
;
陈丽莉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈丽莉
;
王云奇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王云奇
;
楚明磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
楚明磊
.
中国专利
:CN109872304B
,2019-06-11
[8]
缺陷检测方法、装置、缺陷检测设备及计算机存储介质
[P].
朱姗姗
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱姗姗
;
彭奕文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
彭奕文
;
王佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王佳
.
中国专利
:CN111507974A
,2020-08-07
[9]
屏幕缺陷检测方法、检测设备、系统及存储介质
[P].
叶飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶飞
;
何帆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
何帆
.
中国专利
:CN109119009A
,2019-01-01
[10]
检测方法、检测设备、检测装置及存储介质
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈鲁
;
魏林鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
魏林鹏
;
方一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
方一
;
张嵩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张嵩
.
中国专利
:CN112858337B
,2024-12-03
←
1
2
3
4
5
→