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测试片、测试片的制备方法以及炉管退火工艺的监控方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410594774.5
申请日
:
2024-05-13
公开(公告)号
:
CN120998799A
公开(公告)日
:
2025-11-21
发明(设计)人
:
王琪
申请人
:
上海光通信有限公司
申请人地址
:
201815 上海市嘉定区兴贤路1180号3号楼
IPC主分类号
:
H01L21/67
IPC分类号
:
H01L21/324
H01L21/66
代理机构
:
北京鼎承知识产权代理有限公司 11551
代理人
:
张晓明
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-11-21
公开
公开
2025-12-09
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/67申请日:20240513
共 50 条
[1]
测试片以及测试片的制造方法
[P].
李柄周
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李柄周
;
李学龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李学龙
;
金锺元
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金锺元
.
中国专利
:CN106560004B
,2017-04-05
[2]
外延测试片的制备方法
[P].
张洪伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张洪伟
.
中国专利
:CN100474549C
,2008-03-12
[3]
测试片分析装置及测试片分析方法
[P].
楠原大志
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
楠原大志
.
中国专利
:CN106970070B
,2017-07-21
[4]
用于检测刻蚀均匀性的测试片、测试片的使用及制备方法
[P].
周军奎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州芯慧联半导体科技有限公司
苏州芯慧联半导体科技有限公司
周军奎
;
吴荣崇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州芯慧联半导体科技有限公司
苏州芯慧联半导体科技有限公司
吴荣崇
;
杨冬野
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州芯慧联半导体科技有限公司
苏州芯慧联半导体科技有限公司
杨冬野
.
中国专利
:CN118366970B
,2025-02-07
[5]
用于检测刻蚀均匀性的测试片、测试片的使用及制备方法
[P].
周军奎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州芯慧联半导体科技有限公司
苏州芯慧联半导体科技有限公司
周军奎
;
吴荣崇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州芯慧联半导体科技有限公司
苏州芯慧联半导体科技有限公司
吴荣崇
;
杨冬野
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州芯慧联半导体科技有限公司
苏州芯慧联半导体科技有限公司
杨冬野
.
中国专利
:CN118366970A
,2024-07-19
[6]
具有多个反应区的测试片以及使用和制造该测试片的方法
[P].
Y·S·于
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
Y·S·于
.
中国专利
:CN1458526A
,2003-11-26
[7]
一种测试片的制造方法及测试方法
[P].
邱舜国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
珠海格力电子元器件有限公司
珠海格力电子元器件有限公司
邱舜国
;
李辉斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
珠海格力电子元器件有限公司
珠海格力电子元器件有限公司
李辉斌
;
周璇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
珠海格力电子元器件有限公司
珠海格力电子元器件有限公司
周璇
;
周天彪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
珠海格力电子元器件有限公司
珠海格力电子元器件有限公司
周天彪
;
钟泳生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
珠海格力电子元器件有限公司
珠海格力电子元器件有限公司
钟泳生
;
郭国强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
珠海格力电子元器件有限公司
珠海格力电子元器件有限公司
郭国强
.
中国专利
:CN118692936A
,2024-09-24
[8]
具投射光源测试片的测试片感测结构
[P].
郭振元
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郭振元
.
中国专利
:CN211627384U
,2020-10-02
[9]
测试片取用机构、测试片移动装置、液体试样分析装置及测试片取用方法
[P].
高井诚史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高井诚史
;
由良华子
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
由良华子
;
畑田进冴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
畑田进冴
;
宫家泰弘
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宫家泰弘
.
中国专利
:CN105556315A
,2016-05-04
[10]
形成硅外延测试片的方法
[P].
王剑敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王剑敏
.
中国专利
:CN100474505C
,2008-03-19
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