测试片、测试片的制备方法以及炉管退火工艺的监控方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410594774.5
申请日
2024-05-13
公开(公告)号
CN120998799A
公开(公告)日
2025-11-21
发明(设计)人
王琪
申请人
上海光通信有限公司
申请人地址
201815 上海市嘉定区兴贤路1180号3号楼
IPC主分类号
H01L21/67
IPC分类号
H01L21/324 H01L21/66
代理机构
北京鼎承知识产权代理有限公司 11551
代理人
张晓明
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
测试片以及测试片的制造方法 [P]. 
李柄周 ;
李学龙 ;
金锺元 .
中国专利 :CN106560004B ,2017-04-05
[2]
外延测试片的制备方法 [P]. 
张洪伟 .
中国专利 :CN100474549C ,2008-03-12
[3]
测试片分析装置及测试片分析方法 [P]. 
楠原大志 .
中国专利 :CN106970070B ,2017-07-21
[4]
用于检测刻蚀均匀性的测试片、测试片的使用及制备方法 [P]. 
周军奎 ;
吴荣崇 ;
杨冬野 .
中国专利 :CN118366970B ,2025-02-07
[5]
用于检测刻蚀均匀性的测试片、测试片的使用及制备方法 [P]. 
周军奎 ;
吴荣崇 ;
杨冬野 .
中国专利 :CN118366970A ,2024-07-19
[6]
具有多个反应区的测试片以及使用和制造该测试片的方法 [P]. 
Y·S·于 .
中国专利 :CN1458526A ,2003-11-26
[7]
一种测试片的制造方法及测试方法 [P]. 
邱舜国 ;
李辉斌 ;
周璇 ;
周天彪 ;
钟泳生 ;
郭国强 .
中国专利 :CN118692936A ,2024-09-24
[8]
具投射光源测试片的测试片感测结构 [P]. 
郭振元 .
中国专利 :CN211627384U ,2020-10-02
[9]
测试片取用机构、测试片移动装置、液体试样分析装置及测试片取用方法 [P]. 
高井诚史 ;
由良华子 ;
畑田进冴 ;
宫家泰弘 .
中国专利 :CN105556315A ,2016-05-04
[10]
形成硅外延测试片的方法 [P]. 
王剑敏 .
中国专利 :CN100474505C ,2008-03-19