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ウェーハの面取り装置、及び、面取り方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20240056542
申请日
:
2024-03-29
公开(公告)号
:
JP2025153863A
公开(公告)日
:
2025-10-10
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
B24B53/00
IPC分类号
:
B24B9/00
B24B49/18
B24B53/07
B24B53/12
H01L21/304
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
ウェーハの加工方法、インゴットの加工方法及びウェーハ[ja]
[P].
日本专利
:JP2025176507A
,2025-12-04
[2]
ウェハの分割方法および加工方法ならびにウェハ分割装置[ja]
[P].
ASAHI NOBORU
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TORAY ENG CO LTD
TORAY ENG CO LTD
ASAHI NOBORU
.
日本专利
:JP2025074550A
,2025-05-14
[3]
熱電ウェハ及びその製造方法[ja]
[P].
MORITA WATARU
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
LINTEC CORP
LINTEC CORP
MORITA WATARU
;
YAMAZAKI TOSHIYA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
LINTEC CORP
LINTEC CORP
YAMAZAKI TOSHIYA
;
MASUMOTO MUTSUMI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
LINTEC CORP
LINTEC CORP
MASUMOTO MUTSUMI
.
日本专利
:JP2024143442A
,2024-10-11
[4]
半導体ウェハの製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022534373A
,2022-07-29
[5]
製造過程の半導体ウェーハおよび製造過程関連のウェーハおよびシステムの周辺を保護する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2017535064A
,2017-11-24
[6]
製造過程の半導体ウェーハおよび製造過程関連のウェーハおよびシステムの周辺を保護する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6221012B1
,2017-10-25
[7]
基板ウェーハ上に半導体材料の層を堆積させるための装置および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023543662A
,2023-10-18
[8]
基板ウェーハ上に半導体材料の層を堆積させるための装置および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7682999B2
,2025-05-26
[9]
半導体材料ウェハを研磨するための方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5853041B2
,2016-02-09
[10]
官能基化ウェルプレート、その作製及び使用方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022502017A
,2022-01-11
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