光学邻近修正方法和系统、设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410573342.6
申请日
2024-05-09
公开(公告)号
CN120928642A
公开(公告)日
2025-11-11
发明(设计)人
刘文东 项偲 方超
申请人
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请人地址
201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张江路18号
IPC主分类号
G03F1/36
IPC分类号
G03F7/20
代理机构
上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327
代理人
严皖金;张雪琴
法律状态
公开
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
光学邻近修正方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
方超 ;
刘文东 .
中国专利 :CN121050167A ,2025-12-02
[2]
光学邻近修正方法、存储介质及终端 [P]. 
王科 ;
任堃 ;
高大为 ;
吴永玉 .
中国专利 :CN118963055B ,2025-11-25
[3]
光学邻近修正方法、存储介质及终端 [P]. 
王科 ;
任堃 ;
高大为 ;
吴永玉 .
中国专利 :CN118963055A ,2024-11-15
[4]
光学邻近修正方法、存储介质及终端 [P]. 
钟晨 ;
王栋 .
中国专利 :CN120215196A ,2025-06-27
[5]
光学邻近修正方法、存储介质及终端 [P]. 
钟晨 ;
王栋 .
中国专利 :CN120215197A ,2025-06-27
[6]
光学邻近效应修正方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
苌现 ;
朱画 ;
张帆 .
中国专利 :CN120993682A ,2025-11-21
[7]
光学邻近修正方法及修正装置、掩膜版、设备和存储介质 [P]. 
朱斌 ;
王浩 ;
陈洁 ;
张剑 ;
曹楠 ;
严保鑫 ;
陈圆香 .
中国专利 :CN121165387A ,2025-12-19
[8]
光学邻近修正方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
王茂林 ;
李文章 .
中国专利 :CN114488721A ,2022-05-13
[9]
光学邻近修正方法及系统、掩膜版、设备及存储介质 [P]. 
杜杳隽 ;
丁丽华 .
中国专利 :CN116165837B ,2025-09-02
[10]
光学邻近修正方法及系统、掩膜版、设备及存储介质 [P]. 
杜杳隽 .
中国专利 :CN115903368B ,2025-08-05