一种电子产品性能智能测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510944162.9

申请日：

2025-07-09

公开(公告)号：

CN120873948A

公开(公告)日：

2025-10-31

发明(设计)人：

王超

申请人：

广东吉泰工业有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市坪山区坑梓街道秀新社区宝梓北路131号A栋101

IPC主分类号：

G06F18/25

IPC分类号：

G01R31/00 G06F30/27 G06F18/20 G06F18/10 G06N3/084 G06N3/092 G06N5/022 G06Q10/0631 G06F18/213

代理机构：

深圳市国高专利代理事务所(普通合伙) 44731

代理人：

陈冠豪

法律状态：

公开

国省代码：

引用

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共 50 条

[1]

一种电子产品性能测试系统 [P].

郭茂玉 ;

钱竹平 ;

王玉玺 .

中国专利 :CN111504378A ,2020-08-07

[2]

一种电子产品测试系统 [P].

王志纯 .

中国专利 :CN109307818A ,2019-02-05

[3]

通讯电子产品测试系统与通讯电子产品测试方法 [P].

牛佛林 ;

吴桂鑫 ;

张博珺 ;

陈春荣 ;

毛肇文 ;

郭兴农 .

中国专利 :CN113660135A ,2021-11-16

[4]

电子产品热性能测试系统及方法 [P].

刘富明 .

中国专利 :CN102385548A ,2012-03-21

[5]

一种电子产品老化测试系统 [P].

王震 ;

宋静 .

中国专利 :CN119618319A ,2025-03-14

[6]

一种电子产品老化测试系统 [P].

束龙胜 ;

崔文梅 ;

高峰 ;

张希 ;

吴小春 ;

李颖 ;

汪菁涵 ;

杨先忠 ;

沈松 ;

马小群 .

中国专利 :CN104198861A ,2014-12-10

[7]

一种电子产品的测试系统 [P].

白崇龙 .

中国专利 :CN216285477U ,2022-04-12

[8]

一种电子产品异常测试系统 [P].

苏祺云 ;

李崇赞 .

中国专利 :CN221465662U ,2024-08-02

[9]

一种电子产品老化测试系统 [P].

王震 ;

宋静 .

中国专利 :CN119618319B ,2025-07-15

[10]

一种产品性能测试系统 [P].

李长顺 .

中国专利 :CN207963923U ,2018-10-12

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-31	公开	公开
2025-11-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 18/25申请日:20250709