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半導体フォトレジスト用組成物およびこれを利用したパターン形成方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20250016593
申请日
:
2025-02-04
公开(公告)号
:
JP2025146682A
公开(公告)日
:
2025-10-03
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G03F7/004
IPC分类号
:
G03F7/20
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
半導体フォトレジスト用組成物、およびこれを利用したパターン形成方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025170746A
,2025-11-19
[2]
半導体フォトレジスト用組成物およびこれを利用したパターン形成方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023529344A
,2023-07-10
[3]
半導体フォトレジスト用組成物およびこれを利用したパターン形成方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025146675A
,2025-10-03
[4]
半導体フォトレジスト用組成物およびこれを利用したパターン形成方法[ja]
[P].
SHIN SEUNG-WOOK
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机构:
SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
SHIN SEUNG-WOOK
;
JANG SUMIN
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
JANG SUMIN
;
KANG EUNMI
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
KANG EUNMI
;
KIM JIMIN
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机构:
SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
KIM JIMIN
;
SEO YAEUN
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机构:
SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
SEO YAEUN
;
SEONG TAEGEUN
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
SEONG TAEGEUN
;
U MASAHIDE
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
U MASAHIDE
;
LEE MINYOUNG
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
LEE MINYOUNG
;
LIM WANHEE
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
LIM WANHEE
;
JANG SEUNGWOO
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
JANG SEUNGWOO
;
HAN JOONHEE
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机构:
SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
HAN JOONHEE
.
日本专利
:JP2025106186A
,2025-07-15
[5]
半導体フォトレジスト用組成物、およびこれを利用したパターン形成方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025175946A
,2025-12-03
[6]
半導体フォトレジスト用組成物およびこれを利用したパターン形成方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025138568A
,2025-09-25
[7]
半導体フォトレジスト用組成物およびこれを利用したパターン形成方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025144520A
,2025-10-02
[8]
半導体フォトレジスト用組成物およびこれを利用したパターン形成方法[ja]
[P].
RYU DONG WAN
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机构:
SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
RYU DONG WAN
;
KANG EUNMI
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
KANG EUNMI
;
KIM YOUNG KEUN
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
KIM YOUNG KEUN
;
LIM SEOL HEE
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
LIM SEOL HEE
;
LIM SOOBIN
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
LIM SOOBIN
;
KANG SUKIL
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
KANG SUKIL
.
日本专利
:JP2025026349A
,2025-02-21
[9]
半導体フォトレジスト用組成物、およびこれを利用したパターン形成方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025155843A
,2025-10-14
[10]
半導体フォトレジスト用組成物およびこれを用いたパターン形成方法[ja]
[P].
CHOI JUNG MIN
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机构:
SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
CHOI JUNG MIN
;
HAN JOONHEE
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
HAN JOONHEE
;
IM SANGKYUN
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
IM SANGKYUN
;
MOON SUNGIL
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
MOON SUNGIL
;
BAEK JAEYEOL
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SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
BAEK JAEYEOL
;
OH BUKEUN
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SAMSUNG SDI CO LTD
OH BUKEUN
;
SHI KUSHUN
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SHI KUSHUN
.
日本专利
:JP2025106187A
,2025-07-15
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