芯片测试插座及芯片测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202310245217.8

申请日：

2023-03-13

公开(公告)号：

CN116148510B

公开(公告)日：

2025-12-05

发明(设计)人：

韩信路瑶于长亮

申请人：

展讯通信（上海）有限公司

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

张英英

法律状态：

授权

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-05	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试插座 [P].

黄瀚民 ;

曾照晖 ;

苏伟志 .

中国专利 :CN117405929A ,2024-01-16

[2]

芯片测试插座 [P].

涂曼 .

中国专利 :CN301173486S ,2010-04-14

[3]

芯片测试插座 [P].

王悦聪 ;

徐艺凌 .

中国专利 :CN216209334U ,2022-04-05

[4]

芯片测试夹具及芯片测试组件 [P].

冯恒超 ;

杨小明 ;

郑朝辉 .

中国专利 :CN120870839A ,2025-10-31

[5]

芯片测试板及芯片测试方法 [P].

卢宗正 .

中国专利 :CN112904180B ,2021-06-04

[6]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN118519843B ,2024-12-06

[7]

芯片测试机及芯片测试方法 [P].

殷岚勇 ;

徐亮 .

中国专利 :CN112444734A ,2021-03-05

[8]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN118519843A ,2024-08-20

[9]

芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

张大成 ;

施瑾 ;

刘远华 ;

顾春华 ;

郝丹丹 .

中国专利 :CN103576079A ,2014-02-12

[10]

芯片测试方法及芯片测试机 [P].

周博 ;

郭平日 ;

李奇峰 ;

杨云 .

中国专利 :CN105676105A ,2016-06-15

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