芯片测试方法及芯片测试机

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410660694.1

申请日：

2014-11-19

公开(公告)号：

CN105676105A

公开(公告)日：

2016-06-15

发明(设计)人：

周博郭平日李奇峰杨云

申请人：

申请人地址：

518118 广东省深圳市坪山新区比亚迪路3009号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

张大威

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-06-15	公开	公开
2020-05-29	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20160615
2016-08-31	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101676577402 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2014106606941 申请日:20141119

共 50 条

[1]

芯片测试机及芯片测试方法 [P].

殷岚勇 ;

徐亮 .

中国专利 :CN112444734A ,2021-03-05

[2]

芯片测试机及芯片测试系统 [P].

王晓斌 ;

马彦斌 ;

李鑫 ;

王亮 ;

朱旋虎 .

中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15

[3]

芯片测试机构及测试机 [P].

张磊 ;

陈波 .

中国专利 :CN216595407U ,2022-05-24

[4]

芯片测试机 [P].

陈石矶 .

中国专利 :CN203069739U ,2013-07-17

[5]

芯片测试机 [P].

李震 ;

陈化良 ;

尤春明 .

中国专利 :CN117572196A ,2024-02-20

[6]

芯片测试机、芯片测试机的监控装置及监控方法 [P].

潘子升 ;

宋斌俊 ;

魏建中 .

中国专利 :CN105300333A ,2016-02-03

[7]

芯片测试机 [P].

白盛闵 .

中国专利 :CN217787141U ,2022-11-11

[8]

芯片测试机 [P].

陈石矶 .

中国专利 :CN104181453A ,2014-12-03

[9]

芯片测试机 [P].

李震 ;

陈化良 ;

尤春明 .

中国专利 :CN117572196B ,2025-08-05

[10]

芯片测试机 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN113533938A ,2021-10-22

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