一种测试方法、装置、存储介质及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511120144.5

申请日：

2025-08-12

公开(公告)号：

CN120610149B

公开(公告)日：

2025-12-05

发明(设计)人：

荣世立吴忠良李岩

申请人：

浪潮计算机科技有限公司

申请人地址：

250101 山东省济南市高新区新泺大街1166号奥盛大厦1号楼2324

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734

代理人：

姚文娴

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-05	授权	授权
2025-09-26	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250812
2025-09-09	公开	公开
2025-12-30	专利权质押登记、变更及注销	专利权质押登记IPC(主分类):G01R 31/28登记号:Y2025980060721登记日:20251212出质人:浪潮计算机科技有限公司质权人:山东山科融资租赁有限公司发明名称:一种测试方法、装置、存储介质及电子设备申请日:20250812授权公告日:20251205

共 50 条

[1]

一种测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

荣世立 ;

吴忠良 ;

李岩 .

中国专利 :CN120610149A ,2025-09-09

[2]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王芸红 .

中国专利 :CN120295843A ,2025-07-11

[3]

一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

左明阳 .

中国专利 :CN112199300B ,2021-01-08

[4]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何俊 ;

马振克 ;

沈卫杰 .

中国专利 :CN118012687A ,2024-05-10

[5]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙绍宗 .

中国专利 :CN117851265A ,2024-04-09

[6]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘俊启 ;

谷铁峰 ;

姬路涛 .

中国专利 :CN115964277B ,2025-11-18

[7]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

韩玉祥 ;

梁雨霏 .

中国专利 :CN114756473A ,2022-07-15

[8]

节点集群测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

冯瑞青 ;

王亮 ;

吴皓睿 ;

王健 ;

裴超 .

中国专利 :CN111181801A ,2020-05-19

[9]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

张珺 ;

农华莲 ;

韩照光 .

中国专利 :CN113297088A ,2021-08-24

[10]

接口测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

翟宏 .

中国专利 :CN114116519A ,2022-03-01

← 1 2 3 4 5 →