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芯片多层AOI检测设备和芯片多层AOI检测设备的检测方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511536508.8
申请日：
2025-10-27
公开(公告)号：
CN121007907A
公开(公告)日：
2025-11-25
发明(设计)人：
李宣令
张海裕
李磊
汪伟
毕海
申请人：
季华实验室
申请人地址：
528200 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号
IPC主分类号：
G01N21/95
IPC分类号：
G01N21/01
G01N21/88
代理机构：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287
代理人：
董春连
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-11-25 | 公开 | 公开 |
| 2025-12-12 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/95申请日:20251027 |