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一种芯片AOI检测设备和芯片测试设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511584533.3
申请日：
2025-10-31
公开(公告)号：
CN121207970A
公开(公告)日：
2025-12-26
发明(设计)人：
任鸿昌 施志虎 孙成扬
申请人：
苏州联讯仪器股份有限公司
申请人地址：
215129 江苏省苏州市高新区湘江路1508号5幢
IPC主分类号：
G01N21/84
IPC分类号：
G01N21/956 G01N21/01
代理机构：
苏州创智高诺知识产权代理有限公司 32843
代理人：
白莉莉
法律状态：
公开
国省代码：
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-12-26 公开 公开
共 50 条
[1]
芯片多层AOI检测设备和芯片多层AOI检测设备的检测方法 [P]. 
李宣令 ;
张海裕 ;
李磊 ;
汪伟 ;
毕海 .
中国专利 :CN121007907A ,2025-11-25
[2]
一种芯片AOI检测设备 [P]. 
吴建新 ;
钱志强 ;
杜国超 ;
罗红梅 ;
吴志浩 .
中国专利 :CN120801339A ,2025-10-17
[3]
一种多功能芯片AOI检测及处理设备 [P]. 
易正瑜 ;
廖毅 ;
王素强 .
中国专利 :CN117380573A ,2024-01-12
[4]
一种芯片外观AOI检测设备 [P]. 
赵东林 .
中国专利 :CN220584083U ,2024-03-12
[5]
一种芯片外观AOI检测装置 [P]. 
严华荣 ;
季国辉 ;
徐志芃 .
中国专利 :CN223205383U ,2025-08-08
[6]
芯片测试装置和芯片测试设备 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘冲 .
中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29
[7]
芯片测试载具和芯片测试设备 [P]. 
刘昆奇 ;
孙成思 ;
何瀚 ;
洪瑞斌 ;
韩磊 .
中国专利 :CN223513253U ,2025-11-04
[8]
芯片测试载具和芯片测试设备 [P]. 
刘昆奇 ;
孙成思 ;
何瀚 ;
洪瑞斌 ;
韩磊 .
中国专利 :CN119246911A ,2025-01-03
[9]
一种芯片光学特性测试设备 [P]. 
何军 ;
胡健 ;
江鹏 .
中国专利 :CN117629592A ,2024-03-01
[10]
一种芯片光学特性测试设备 [P]. 
何军 ;
胡健 ;
江鹏 .
中国专利 :CN221764851U ,2024-09-24
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