一种芯片光学特性测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410012628.7

申请日：

2024-01-03

公开(公告)号：

CN117629592A

公开(公告)日：

2024-03-01

发明(设计)人：

何军胡健江鹏

申请人：

南京芯视元电子有限公司

申请人地址：

210000 江苏省南京市江北新区星火路14号长峰大厦1号试验楼201室

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

严小艳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

浙江省宁波市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20240103
2024-03-01	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片光学特性测试设备 [P].

何军 ;

胡健 ;

江鹏 .

中国专利 :CN221764851U ,2024-09-24

[2]

一种屏幕光学特性测试设备及其系统 [P].

吴泽斌 ;

林志阳 ;

王世锐 .

中国专利 :CN114577445A ,2022-06-03

[3]

一种屏幕光学特性测试设备及其系统 [P].

吴泽斌 ;

林志阳 ;

王世锐 .

中国专利 :CN216791593U ,2022-06-21

[4]

一种芯片AOI检测设备和芯片测试设备 [P].

任鸿昌 ;

施志虎 ;

孙成扬 .

中国专利 :CN121207970A ,2025-12-26

[5]

一种测试LED芯片光学特性参数的装置 [P].

潘中良 ;

陈翎 .

中国专利 :CN204301972U ,2015-04-29

[6]

光学传感器、光学测试设备以及光学特性检测方法 [P].

石井稔浩 ;

高桥阳一郎 .

中国专利 :CN106999165A ,2017-08-01

[7]

光学传感器、光学测试设备以及光学特性检测方法 [P].

石井稔浩 ;

高桥阳一郎 ;

菅原悟 ;

下川丈明 ;

山下宙人 ;

佐藤雅昭 .

中国专利 :CN105578968B ,2016-05-11

[8]

一种芯片光学检测设备 [P].

赖勉力 ;

汪利军 .

中国专利 :CN216284900U ,2022-04-12

[9]

一种集成电路芯片测试设备 [P].

朱美山 .

中国专利 :CN120993167A ,2025-11-21

[10]

一种LED芯片光学特性预测方法及系统 [P].

陈焕庭 ;

李燕 ;

林惠川 ;

胡俊民 .

中国专利 :CN109033587A ,2018-12-18

← 1 2 3 4 5 →