一种LED芯片光学特性预测方法及系统

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专利类型
发明
申请号
CN201810769241.0
申请日
2018-07-13
公开(公告)号
CN109033587A
公开(公告)日
2018-12-18
发明(设计)人
陈焕庭 李燕 林惠川 胡俊民
申请人
申请人地址
363000 福建省漳州市芗城区县前直街36号
IPC主分类号
G06F1750
IPC分类号
代理机构
北京高沃律师事务所 11569
代理人
王戈
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种测试LED芯片光学特性参数的装置 [P]. 
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[2]
一种LED芯片特性参数获取方法 [P]. 
王渊 ;
董孟迪 .
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[3]
一种芯片光学特性测试设备 [P]. 
何军 ;
胡健 ;
江鹏 .
中国专利 :CN117629592A ,2024-03-01
[4]
一种芯片光学特性测试设备 [P]. 
何军 ;
胡健 ;
江鹏 .
中国专利 :CN221764851U ,2024-09-24
[5]
一种LED芯片光学性能测试方法及系统 [P]. 
程先金 ;
徐金军 ;
李园刚 ;
张聪 ;
杨重影 .
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[6]
一种LED芯片光学性能测试方法及系统 [P]. 
彭超 ;
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谈健 ;
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[7]
光学特性测定系统及光学特性测定方法 [P]. 
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[8]
一种LED芯片及LED芯片的制备方法 [P]. 
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张阳阳 ;
张君逸 ;
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[9]
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张星星 ;
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[10]
一种LED芯片制备方法及LED芯片 [P]. 
罗亮 ;
万齐欣 ;
茹浩 ;
胡加辉 ;
熊志华 ;
金从龙 .
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