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一种采用反射率热成像测试系统的材料界面热导率测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202511231269.5
申请日
:
2025-08-30
公开(公告)号
:
CN121068676A
公开(公告)日
:
2025-12-05
发明(设计)人
:
马丙戌
朱建垣
刘昌
刘沛江
田万春
陈思
申请人
:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申请人地址
:
511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
IPC主分类号
:
G01N25/20
IPC分类号
:
G01N25/18
G06V10/80
G06V10/77
代理机构
:
北京原创佳华知识产权代理事务所(普通合伙) 44556
代理人
:
程磊
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-12-05
公开
公开
2025-12-23
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 25/20申请日:20250830
共 50 条
[1]
基于热测试芯片的热界面材料的热导率测试方法及系统
[P].
叶怀宇
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
叶怀宇
;
王少刚
论文数:
0
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0
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0
机构:
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
王少刚
;
薛云
论文数:
0
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0
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机构:
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
薛云
;
苏瑞盈
论文数:
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0
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机构:
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
苏瑞盈
.
中国专利
:CN117929465A
,2024-04-26
[2]
基于热测试芯片的热界面材料的热导率测试方法及系统
[P].
叶怀宇
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
叶怀宇
;
王少刚
论文数:
0
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0
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机构:
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
王少刚
;
薛云
论文数:
0
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机构:
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
薛云
;
苏瑞盈
论文数:
0
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0
机构:
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
纳宇半导体材料(深圳)有限责任公司
苏瑞盈
.
中国专利
:CN117929465B
,2024-11-26
[3]
一种反射率测试系统及方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
谢婉露
;
论文数:
引用数:
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机构:
吴晓斌
;
论文数:
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机构:
韩晓泉
;
论文数:
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机构:
王魁波
;
论文数:
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机构:
沙鹏飞
;
李慧
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0
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0
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机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
李慧
;
论文数:
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机构:
罗艳
;
论文数:
引用数:
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机构:
谭芳蕊
;
论文数:
引用数:
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机构:
丁金滨
.
中国专利
:CN117907229A
,2024-04-19
[4]
低维材料的热导率测试方法和测试系统
[P].
张学骜
论文数:
0
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0
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张学骜
;
邓楚芸
论文数:
0
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0
邓楚芸
;
卫月华
论文数:
0
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0
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卫月华
;
周敏
论文数:
0
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0
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0
周敏
.
中国专利
:CN111103318A
,2020-05-05
[5]
一种低频同轴反射率测试系统及测试方法
[P].
刘刚
论文数:
0
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0
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0
机构:
成都佳驰电子科技股份有限公司
成都佳驰电子科技股份有限公司
刘刚
;
李维佳
论文数:
0
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机构:
成都佳驰电子科技股份有限公司
成都佳驰电子科技股份有限公司
李维佳
;
孙勃
论文数:
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机构:
成都佳驰电子科技股份有限公司
成都佳驰电子科技股份有限公司
孙勃
;
陈学智
论文数:
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机构:
成都佳驰电子科技股份有限公司
成都佳驰电子科技股份有限公司
陈学智
;
刘俊宏
论文数:
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机构:
成都佳驰电子科技股份有限公司
成都佳驰电子科技股份有限公司
刘俊宏
;
张辉彬
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机构:
成都佳驰电子科技股份有限公司
成都佳驰电子科技股份有限公司
张辉彬
;
陈良
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机构:
成都佳驰电子科技股份有限公司
成都佳驰电子科技股份有限公司
陈良
.
中国专利
:CN117705829A
,2024-03-15
[6]
基于双弓形架高温反射率测试系统的反射率测试方法
[P].
李玉宝
论文数:
0
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0
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0
机构:
北京盈波科技有限公司
北京盈波科技有限公司
李玉宝
.
中国专利
:CN121049591A
,2025-12-02
[7]
一种吸波材料的反射率测试系统及测试方法
[P].
易伟
论文数:
0
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易伟
;
刘小康
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刘小康
;
杨闪剑
论文数:
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杨闪剑
;
袁铁
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0
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袁铁
;
朱立军
论文数:
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朱立军
;
吴拥军
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吴拥军
;
易麦儿
论文数:
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0
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0
易麦儿
.
中国专利
:CN109507212A
,2019-03-22
[8]
一种反射率测试系统及反射率对比验证方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
谢婉露
;
论文数:
引用数:
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机构:
吴晓斌
;
论文数:
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机构:
韩晓泉
;
论文数:
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机构:
王魁波
;
李慧
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0
机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
李慧
;
论文数:
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机构:
沙鹏飞
;
论文数:
引用数:
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机构:
罗艳
;
论文数:
引用数:
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机构:
谭芳蕊
;
论文数:
引用数:
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机构:
丁金滨
.
中国专利
:CN119861053A
,2025-04-22
[9]
微区反射率测试系统及其测试方法
[P].
向勇
论文数:
0
引用数:
0
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向勇
;
王维
论文数:
0
引用数:
0
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0
王维
;
苏阳
论文数:
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0
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苏阳
.
中国专利
:CN106353282B
,2017-01-25
[10]
一种面向热反射测试技术的软物质材料热导率测试夹具
[P].
马丙戌
论文数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
马丙戌
;
梁航
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
梁航
;
侯旎璐
论文数:
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
侯旎璐
;
杨晓锋
论文数:
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
杨晓锋
;
田万春
论文数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
田万春
;
刘昌
论文数:
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
刘昌
;
陈思
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈思
.
中国专利
:CN121049334A
,2025-12-02
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