检查装置及检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202480033385.3

申请日：

2024-03-04

公开(公告)号：

CN121152960A

公开(公告)日：

2025-12-16

发明(设计)人：

中村共则

申请人：

浜松光子学株式会社

申请人地址：

日本

IPC主分类号：

G01M11/00

IPC分类号：

G02B6/122 H01S5/0683

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

杨琦;梁策

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-16	公开	公开

共 50 条

[1]

检查装置及检查方法 [P].

中村共则 .

日本专利 :CN121219559A ,2025-12-26

[2]

检查方法及检查装置 [P].

中村共则 ;

大高章弘 .

中国专利 :CN107250786A ,2017-10-13

[3]

检查装置及检查方法 [P].

中村共则 .

日本专利 :CN121152968A ,2025-12-16

[4]

检查装置及检查方法 [P].

石冈圣悟 ;

山冈秀嗣 .

中国专利 :CN1292260C ,2002-11-20

[5]

检查装置及检查方法 [P].

藤井达久 ;

石冈圣悟 .

中国专利 :CN1383489A ,2002-12-04

[6]

软件检查装置及软件检查方法 [P].

长谷川美和子 .

中国专利 :CN105593825B ,2016-05-18

[7]

检查夹具、检查装置及检查方法 [P].

铃川胜 ;

安井彰司 ;

松井洋道 ;

胜亦俊二 .

中国专利 :CN107219449A ,2017-09-29

[8]

检查装置、检查单元及检查方法 [P].

家永裕文 ;

丸小庆介 .

中国专利 :CN109716124A ,2019-05-03

[9]

检查系统、检查方法及检查装置 [P].

小林纱由美 ;

浪冈保男 ;

麻柄隆 ;

山田涉 .

中国专利 :CN102693924B ,2012-09-26

[10]

检查装置及检查方法 [P].

小林将人 .

中国专利 :CN113866458A ,2021-12-31

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