厚度测量工装和厚度测量系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202422923140.8
申请日
2024-11-28
公开(公告)号
CN223743596U
公开(公告)日
2025-12-30
发明(设计)人
代庆秋 袁鹰 赵伟 邓天海
申请人
先导赛翡(重庆)半导体有限公司
申请人地址
401329 重庆市沙坪坝区高新区西永街道西园二路98号附7号标准厂房三期07栋102,103,203,502,08栋101
IPC主分类号
H01L21/66
IPC分类号
G01B5/06 H01L21/687
代理机构
重庆中之信知识产权代理事务所(普通合伙) 50213
代理人
辛云
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
厚度测量工装 [P]. 
高蒙 ;
肖军宝 ;
唐洋洋 .
中国专利 :CN215491450U ,2022-01-11
[2]
镜片厚度测量系统 [P]. 
陶丽芳 .
中国专利 :CN206648563U ,2017-11-17
[3]
厚度测量系统 [P]. 
杨鑫 .
中国专利 :CN103148789A ,2013-06-12
[4]
厚度测量系统 [P]. 
具尚贤 ;
金奭镇 ;
李智勋 .
韩国专利 :CN120731348A ,2025-09-30
[5]
厚度测量系统以及厚度测量方法 [P]. 
古田哲夫 ;
石冢照雄 .
中国专利 :CN103890540A ,2014-06-25
[6]
厚度测量系统和方法 [P]. 
迈克尔·詹金斯 ;
彼得·诺伊曼 .
中国专利 :CN114026381A ,2022-02-08
[7]
薄板厚度测量系统 [P]. 
赵春花 .
中国专利 :CN102840847A ,2012-12-26
[8]
漆膜厚度测量系统 [P]. 
侯勇 ;
李秋诚 ;
张冬冬 .
中国专利 :CN216049693U ,2022-03-15
[9]
海冰厚度测量系统 [P]. 
郭井学 ;
孙波 ;
李丙瑞 ;
李娜 ;
唐学远 ;
李群 .
中国专利 :CN101476864A ,2009-07-08
[10]
晶圆厚度测量装置及含此装置的晶圆厚度测量系统 [P]. 
张瑞 ;
何海峰 .
中国专利 :CN207407780U ,2018-05-25