基于机器视觉的半导体表面字符质量检测系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511440333.0

申请日：

2025-10-10

公开(公告)号：

CN120913225B

公开(公告)日：

2025-12-16

发明(设计)人：

徐海洋杨超

申请人：

苏州芯海半导体科技有限公司

申请人地址：

215613 江苏省苏州市张家港市凤凰镇凤凰科技创业园B幢2层

IPC主分类号：

G06V30/19

IPC分类号：

G06V30/148 G06V30/162 G06V30/18 G06V30/186 G06V30/22

代理机构：

北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265

代理人：

宋勇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06V 30/19申请日:20251010
2025-11-07	公开	公开
2025-12-16	授权	授权

共 50 条

[1]

基于机器视觉的半导体表面字符质量检测系统 [P].

徐海洋 ;

杨超 .

中国专利 :CN120913225A ,2025-11-07

[2]

一种基于机器视觉的半导体表面缺陷检测方法及系统 [P].

许海渐 ;

王海荣 ;

申凡平 ;

孙军伟 .

中国专利 :CN118583862A ,2024-09-03

[3]

基于机器视觉的玻璃生产质量检测系统 [P].

李忠宝 ;

蒙炳元 ;

刘林 .

中国专利 :CN119648630A ,2025-03-18

[4]

一种基于机器视觉的半导体载带表面质量检测方法及系统 [P].

何志平 ;

章俊 ;

李照 .

中国专利 :CN120689347B ,2025-10-28

[5]

一种基于机器视觉的半导体载带表面质量检测方法及系统 [P].

何志平 ;

章俊 ;

李照 .

中国专利 :CN120689347A ,2025-09-23

[6]

基于机器视觉的智能质量检测系统 [P].

王广兰 ;

任双勋 ;

李明强 ;

李佳 ;

王艳 ;

石少广 ;

吴越 ;

吴艳 ;

吴静 .

中国专利 :CN120369618A ,2025-07-25

[7]

一种基于机器视觉的半导体精密零部件质量检测系统 [P].

田程 ;

魏亮 ;

罗晨晨 .

中国专利 :CN120629180A ,2025-09-12

[8]

一种基于机器视觉的半导体表面缺陷检测方法及系统 [P].

李媛 ;

叶少豪 .

中国专利 :CN120707464A ,2025-09-26

[9]

基于机器视觉的船体表面缺陷检测系统 [P].

鲁元成 ;

江建胜 ;

金浚 .

中国专利 :CN120807528A ,2025-10-17

[10]

基于机器视觉的船体表面缺陷检测系统 [P].

鲁元成 ;

江建胜 ;

金浚 .

中国专利 :CN120807528B ,2025-11-18

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