HOLOGRAPHIC NONDESTRUCTIVE TESTING AT FOURIER PLANE

被引：6

作者：

ROYCHOUDHURI, C ^{[1
]}

MACHORRO, R ^{[1
]}

机构：

[1] CTR INVEST CIENT EDUC SUPERIOR ENSENADA,AP 2732,ENSENADA,MEXICO

来源：

APPLIED OPTICS | 1978年 / 17卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.17.000848

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：848 / 850

页数：3

共 16 条

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