WEIBULL ACCELERATED LIFE TESTS WHEN THERE ARE COMPETING CAUSES OF FAILURE

被引：45

作者：

KLEIN, JP ^{[1
]}

BASU, AP ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV MISSOURI,DEPT STAT,COLUMBIA,MO 65211

来源：

COMMUNICATIONS IN STATISTICS PART A-THEORY AND METHODS | 1981年 / 10卷 / 20期

关键词：

D O I：

10.1080/03610928108828174

中图分类号：

O21 [概率论与数理统计]; C8 [统计学];

学科分类号：

020208 ; 070103 ; 0714 ;

摘要：

引用

页码：2073 / 2100

页数：28