AU(100) - CHARACTERIZATION OF RE-ORDERED AND NORMAL SURFACES VIA LEED, AES, AND ELS

被引:74
作者
WENDELKEN, JF
ZEHNER, DM
机构
关键词
D O I
10.1016/0039-6028(78)90325-4
中图分类号
O64 [物理化学(理论化学)、化学物理学];
学科分类号
070304 ; 081704 ;
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    JENKINS, LH
    SCHOW, OE
    [J]. JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY, 1975, 12 (01): : 454 - 457
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