共 70 条
[2]
ANDERSEN CA, 1975, SECONDARY ION MASS S, P79
[3]
Andersen CA., 1970, INT J MASS SPECTROM, V3, P413, DOI [10.1016/0020-7381(70)80001-8, DOI 10.1016/0020-7381(70)80001-8]
[4]
ANDERSEN CA, 1969, INT J MASS SPECTROM, V2, P61
[7]
DIE POSITIVE SEKUNDARIONENEMISSION VON SAUERSTOFFBEDECKTEN METALLEN
[J].
ZEITSCHRIFT FUR NATURFORSCHUNG PART A-ASTROPHYSIK PHYSIK UND PHYSIKALISCHE CHEMIE,
1967, A 22 (05)
:841-+
[8]
ANALYSIS OF MONOMOLECULAR LAYERS OF SOLIDS BY SECONDARY ION EMISSION
[J].
ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK,
1970, 230 (05)
:403-+
[9]
UNTERSUCHUNGEN ZUR EMISSION POSITIVER SEKUNDARIONEN AUS FESTEN TARGETS . DIE BRAUCHBARKEIT DER IONENBESCHUSS-IONENQUELLE IN DER MASSENSPEKTROSKOPIE
[J].
ZEITSCHRIFT FUR NATURFORSCHUNG PART A-ASTROPHYSIK PHYSIK UND PHYSIKALISCHE CHEMIE,
1967, A 22 (04)
:459-+
[10]
Blaise G., 1978, Material Characterization Using Ion Beams. Lectures Presented at the NATO Advanced Study Institute on Material Characterization Using Ion Beams, P143