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A SHADOW CASTING UNIT FOR THE RCA ELECTRON MICROSCOPE
被引:1
作者
:
CRANE, HR
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CRANE, HR
LEVINSTEIN, H
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LEVINSTEIN, H
WILLIAMS, RC
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WILLIAMS, RC
机构
:
来源
:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
|
1945年
/ 16卷
/ 10期
关键词
:
D O I
:
10.1063/1.1770294
中图分类号
:
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要
:
引用
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页码:296 / 296
页数:1
相关论文
共 3 条
[1]
SURFACE REPLICAS FOR ELECTRON MICROSCOPY
[J].
THOMASSEN, L
论文数:
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THOMASSEN, L
;
WILLIAMS, RC
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WILLIAMS, RC
;
WYCKOFF, RWG
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0
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WYCKOFF, RWG
.
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS,
1945,
16
(06)
:155
-156
[2]
The thickness of electron microscopic objects
[J].
Williams, RC
论文数:
0
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0
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机构:
Univ Michigan, Sch Publ Hlth, Dept Astron, Ann Arbor, MI USA
Williams, RC
;
Wyckoff, RWG
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0
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0
机构:
Univ Michigan, Sch Publ Hlth, Dept Astron, Ann Arbor, MI USA
Wyckoff, RWG
.
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1944,
15
(10)
:712
-716
[3]
WILLIAMS RC, 1945, P SOC EXP BIOL MED, V58, P265, DOI 10.3181/00379727-58-14918
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共 3 条
[1]
SURFACE REPLICAS FOR ELECTRON MICROSCOPY
[J].
THOMASSEN, L
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THOMASSEN, L
;
WILLIAMS, RC
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WILLIAMS, RC
;
WYCKOFF, RWG
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WYCKOFF, RWG
.
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS,
1945,
16
(06)
:155
-156
[2]
The thickness of electron microscopic objects
[J].
Williams, RC
论文数:
0
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机构:
Univ Michigan, Sch Publ Hlth, Dept Astron, Ann Arbor, MI USA
Williams, RC
;
Wyckoff, RWG
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机构:
Univ Michigan, Sch Publ Hlth, Dept Astron, Ann Arbor, MI USA
Wyckoff, RWG
.
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1944,
15
(10)
:712
-716
[3]
WILLIAMS RC, 1945, P SOC EXP BIOL MED, V58, P265, DOI 10.3181/00379727-58-14918
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