ELECTRON BEAM TECHNIQUE FOR MEASURING MICROVOLT CHANGES IN CONTACT POTENTIAL

被引：22

作者：

STEINRIS.F

HETRICK, RE

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1685080

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：304 / &

共 16 条

[11] EFFECT OF OXYGEN ADSORPTION ON SURFACE BARRIER HEIGHT OF CDS [J].

SHAPPIR, J ;

MANY, A .

STEINRISSER, F .

[13] SURFACE PROPERTIES OF 2-6 COMPOUNDS [J].

SWANK, RK .

PHYSICAL REVIEW, 1967, 153 (03) :844-+

[14] SURFACE PHOTOVOLTAGE MEASUREMENTS ON CADMIUM SULFIDE [J].

WILLIAMS, R .

[15] VARIATION OPTIQUE DU POTENTIEL DE CONTACT DU SULFURE DE CADMIUM [J].

WLERICK, G .

PHYSICA, 1954, 20 (11) :1099-1103

[16]

ZYRIANOV GK, 1958, SOV PHYS-TECH PHYS, V3, P2429