ION-BEAM-INDUCED MIGRATION AND ITS EFFECT ON CONCENTRATION PROFILES

被引:130
作者
MYERS, SM
机构
来源
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1980年 / 168卷 / 1-3期
关键词
D O I
10.1016/0029-554X(80)91264-1
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
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页码:265 / 274
页数:10
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