XPS MEASUREMENTS AND STRUCTURAL ASPECTS OF SILICATE AND PHOSPHATE-GLASSES

被引:197
作者
BRUCKNER, R
CHUN, HU
GORETZKI, H
SAMMET, M
机构
[1] PERKIN ELMER PHYS ELECTR,MUNCHEN,FED REP GER
[2] UNIV FRANKFURT,INST PHYS CHEM,D-6000 FRANKFURT 70,FED REP GER
关键词
D O I
10.1016/0022-3093(80)90007-1
中图分类号
TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];
学科分类号
0805 ; 080502 ;
摘要
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