PHOTOEMISSION STUDIES OF 2P CORE LEVELS OF PURE AND HEAVILY DOPED SILICON

被引:88
作者
EBERHARDT, W
KALKOFFEN, G
KUNZ, C
ASPNES, D
CARDONA, M
机构
[1] DESY, NOTKESTR 85, D-2000 HAMBURG 52, GERMANY
[2] MAX PLANCK INST FESTKORPERFORSCH, HEISENBERGSTR 1, D-7000 STUTTGART 80, GERMANY
[3] BELL TEL LABS INC, MURRAY HILL, NJ 07974 USA
来源
PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS | 1978年 / 88卷 / 01期
关键词
D O I
10.1002/pssb.2220880115
中图分类号
O469 [凝聚态物理学];
学科分类号
070205 ;
摘要
引用
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页码:135 / 143
页数:9
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