ELLIPSOMETRIC DETERMINATION OF OPTICAL ANISOTROPY OF GALLIUM SELENIDE

被引：47

作者：

MEYER, F ^{[1
]}

KLUIZENA.EE ^{[1
]}

ENGELSEN, DD ^{[1
]}

机构：

[1] NV PHILIPS GLOEILAMPENFABRIEKEN,RES LABS,EINDHOVEN,NETHERLANDS

来源：

JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA | 1973年 / 63卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1364/JOSA.63.000529

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

收藏

页码：529 / 532

页数：4

相关论文

共 14 条

[11] ELLIPSOMETRY AND CLEAN SURFACES OF SILICON AND GERMANIUM
MEYER, F
DEKLUIZE.EE
BOOTSMA, GA
[J]. SURFACE SCIENCE, 1971, 27 (01) : 88 - +
[12] ANISOTROPY OF OPTICAL-CONSTANTS OF GASE NEAR BAND EDGE
WASSCHER, JD
DIELEMAN, J
[J]. PHYSICS LETTERS A, 1972, A 39 (04) : 279 - &
[13] Williams R. H., 1972, J VAC SCI TECHNOL, V2, P867
[14] WUNSCHE A, 1970, ANN PHYS-BERLIN, V25, P201