SIMPLE CONTACTLESS METHOD FOR MEASURING DECAY TIME OF PHOTOCONDUCTIVITY IN SILICON

被引：3

作者：

LICHTENSTEIN, RM

WILLARD, HJ

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1720508

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：133 / +

页数：1

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共 3 条

[1] LIFETIME MEASUREMENTS OF EXCESS CARRIERS IN SEMICONDUCTORS [J].

HARRICK, NJ .

WEINGARTEN, IR ;

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[3]

1961, P IRE 2, V49, P1292