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INDUCTOSCANNER TUNNELING MICROSCOPE
被引:5
作者
:
CANTU, RG
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CANTU, RG
GARNICA, MAH
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GARNICA, MAH
机构
:
来源
:
SURFACE SCIENCE
|
1987年
/ 181卷
/ 1-2期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0039-6028(87)90161-0
中图分类号
:
O64 [物理化学(理论化学)、化学物理学];
学科分类号
:
070304 ;
081704 ;
摘要
:
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相关论文
共 5 条
[1]
SURFACE STUDIES BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPY
[J].
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.
PHYSICAL REVIEW LETTERS,
1982,
49
(01)
:57
-61
[2]
SURFACE-ROUGHNESS STANDARDS, OBTAINED WITH THE SCANNING TUNNELING MICROSCOPE OPERATED AT ATMOSPHERIC AIR-PRESSURE
[J].
GARCIA, N
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IPN,CTR INVEST & ESTUD AVANZADOS,MEXICO CITY 14740,DF,MEXICO
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MIRANDA, R
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.
METROLOGIA,
1985,
21
(03)
:135
-138
[3]
OPTICAL HETERODYNE PROFILOMETER
[J].
HUANG, CC
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23
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-370
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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS,
1972,
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1978, ANSI B461 AM SOC MEC
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SURFACE STUDIES BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPY
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BINNING, G
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ROHRER, H
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WEIBEL, E
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PHYSICAL REVIEW LETTERS,
1982,
49
(01)
:57
-61
[2]
SURFACE-ROUGHNESS STANDARDS, OBTAINED WITH THE SCANNING TUNNELING MICROSCOPE OPERATED AT ATMOSPHERIC AIR-PRESSURE
[J].
GARCIA, N
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1985,
21
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-138
[3]
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[J].
HUANG, CC
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1984,
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[J].
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1972,
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1978, ANSI B461 AM SOC MEC
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