REAL-TIME X-RAY TOPOGRAPHY - DEFECT DYNAMICS AND CRYSTAL-GROWTH

被引：8

作者：

QUEISSER, HJ

HARTMANN, W

HAGEN, W

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0022-0248(81)90396-1

中图分类号：

O7 [晶体学];

学科分类号：

0702 ; 070205 ; 0703 ; 080501 ;

摘要：

引用

页码：897 / 906

页数：10

共 12 条

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