METASTABILITY BEHAVIOR OF CMOS ASIC FLIP-FLOPS IN THEORY AND TEST

被引：71

作者：

HORSTMANN, JU ^{[1
]}

EICHEL, HW ^{[1
]}

COATES, RL ^{[1
]}

机构：

[1] TOSHIBA CORP,D-3300 BRAUNSCHWEIG,FED REP GER

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/4.16314

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：146 / 157

页数：12

共 38 条

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