FAST-NEUTRON DAMAGE IN SILICON DETECTORS

被引:48
作者
KRANER, HW [1 ]
LI, Z [1 ]
POSNECKER, KU [1 ]
机构
[1] DESY, D-2000 HAMBURG 52, FED REP GER
关键词
D O I
10.1016/0168-9002(89)91091-7
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
引用
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页数:6
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