EFFECT OF SEMICONDUCTOR INHOMOGENEITIES ON CARRIER MOBILITIES MEASURED BY VAN DER VANDERPAUW METHOD

被引：6

作者：

WESTBROOK, RD ^{[1
]}

机构：

[1] OAK RIDGE NATL LAB, SOLID STATE DIV, OAK RIDGE, TN 37830 USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1149/1.2402015

中图分类号：

O646 [电化学、电解、磁化学];

学科分类号：

081704 ;

摘要：

引用

页码：1212 / 1215

页数：4

共 5 条

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