ELECTRICAL AND OPTICAL-PROPERTIES OF VACUUM-DEPOSITED AMORPHOUS ZN3P2 THIN-FILMS

被引:6
作者
ARSENAULT, CJ
BRODIE, DE
机构
关键词
D O I
10.1139/p87-110
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
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页数:4
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共 11 条
[11]   APPARATUS FOR MEASURING SEEBECK COEFFICIENTS OF HIGH-RESISTANCE SEMICONDUCTING-FILMS [J].
TRAKALO, M ;
MOORE, CJ ;
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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1984, 55 (05) :754-760