HALL-EFFECT MEASUREMENTS OF HOLE MOBILITY IN AN INVERSION LAYER OF A MOS STRUCTURE AT LOW-TEMPERATURES

被引：10

作者：

RIBEIRO, CA

PFISTER, JC

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1098(72)90349-3

中图分类号：

O469 [凝聚态物理学];

学科分类号：

070205 ;

摘要：

引用

页码：63 / &

共 6 条

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