Stereoscopy with the electron microscope

被引：6

作者：

Marton, L ^{[1
]}

机构：

[1] Stanford Univ, Div Elect Opt, Stanford, CA USA

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1944年 / 15卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1707379

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：726 / 727

页数：2

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共 1 条

[1] Electron microscopic determination of surface elevations and orientations [J].

Heidenreich, RD ;

Matheson, LA .

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1944, 15 (05) :423-435