TOTAL DOSE FAILURE LEVELS OF SOME VLSICS

被引：2

作者：

KING, EE ^{[1
]}

MANZO, GJ ^{[1
]}

机构：

[1] IBM CORP,DIV FEDERAL SYST,MANASSAS,VA 22110

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1980.4331049

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1449 / 1451

页数：3

相关论文

共 4 条

HUGHES, HL ;

KING, EE .

[2]

ITOH K, 1980 SOL STAT CIRC C, P228

MCGARRITY, JM .

[4]

POSA J, 1980, ELECTRONICS MAY, P119