SCANNING-TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY

被引:44
作者
CREWE, AV
机构
[1] UNIV CHICAGO,DEPT PHYS,CHICAGO,IL 60637
[2] UNIV CHICAGO,DEPT BIOPHYS,CHICAGO,IL 60637
[3] UNIV CHICAGO,ENRICO FERMI INST,CHICAGO,IL 60637
来源
JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1974年 / 100卷 / APR期
关键词
D O I
10.1111/j.1365-2818.1974.tb03937.x
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
引用
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页码:247 / 259
页数:13
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