SHEET RESISTIVITY AND TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPE INVESTIGATIONS OF BF2+-IMPLANTED SILICON

被引:49
作者
CHEN, LJ [1 ]
WU, IW [1 ]
机构
[1] NATL TSINGHUA UNIV,DEPT MAT SCI & ENGN,HSINCHU,TAIWAN
关键词
D O I
10.1063/1.329151
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:3310 / 3318
页数:9
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