STRUCTURAL CHARACTERIZATION OF TRANSPARENT SEMICONDUCTING THIN-FILMS OF SNO2 AND IN2O3

被引：29

作者：

MAMMANA, AP

BRAGA, ES

TORRIANI, I

ANDERSON, RL

机构：

[1] UNIV ESTADUAL CAMPINAS,INST FIS,BR-13100 CAMPINAS,BRAZIL

[2] UNIV VERMONT,DEPT ELECT ENGN,BURLINGTON,VT 05405

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(81)90149-8

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：355 / 359

页数：5