A REAL SPACE INVESTIGATION OF THE DIMER DEFECT STRUCTURE OF SI(001)-(2X8)

被引:107
作者
NIEHUS, H [1 ]
KOHLER, UK [1 ]
COPEL, M [1 ]
DEMUTH, JE [1 ]
机构
[1] IBM CORP,THOMAS J WATSON RES CTR,YORKTOWN HTS,NY 10598
来源
JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1988年 / 152卷
关键词
D O I
10.1111/j.1365-2818.1988.tb01444.x
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
引用
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页码:735 / 742
页数:8
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