HEAT-PULSE ANNEALING OF ARSENIC-IMPLANTED SILICON WITH A CW ARC LAMP

被引:62
作者
GAT, A
机构
来源
ELECTRON DEVICE LETTERS | 1981年 / 2卷 / 04期
关键词
D O I
10.1109/EDL.1981.25350
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
收藏
页码:85 / 87
页数:3
相关论文
共 6 条
  • [1] LASER-SCANNING APPARATUS FOR ANNEALING OF ION-IMPLANTATION DAMAGE IN SEMICONDUCTORS
    GAT, A
    GIBBONS, JF
    [J]. APPLIED PHYSICS LETTERS, 1978, 32 (03) : 142 - 144
  • [2] PHYSICAL AND ELECTRICAL-PROPERTIES OF LASER-ANNEALED ION-IMPLANTED SILICON
    GAT, A
    GIBBONS, JF
    MAGEE, TJ
    PENG, J
    DELINE, VR
    WILLIAMS, P
    EVANS, CA
    [J]. APPLIED PHYSICS LETTERS, 1978, 32 (05) : 276 - 278
  • [3] GAT A, 1979, CW LASER ANNEALING I, P56
  • [4] MCMAHON RA, 1979, OCT P LAS EL BEAM PR, P130
  • [5] NISHIYAMA K, 1980, JAPAN J APPL PHYS LE, V19
  • [6] SHAH NJ, 1980, NOV P S LAS EL BEAM